pxi模組化架構(gou)的半導體測試系統問世。美商國家儀器(ni)發布首款采(cai)用pxi模組化架構(gou)開發(fa)的(de)自(zi)動化半導體測試(shi)系統，標榜兼(jian)具更(geng)(geng)低測試(shi)成本、更(geng)(geng)高功能擴充性及更(geng)(geng)快部署(shu)的(de)優勢，為傳統半導體自(zi)動化測試(shi)設備(bei)(ate)制造(zao)商(shang)帶來不可小覷的威脅。
　　美商國家儀器(qi)精密直(zhi)流資深(shen)產品(pin)經理(li)joeytun表示，pxi架(jia)構的半導體(ti)測試系統(tong)具備(bei)多通道特性，不(bu)僅較(jiao)傳統(tong)ate測試速(su)度更(geng)快(kuai)，且功能擴充彈性高(gao)，可望獲(huo)得更(geng)多類比和射頻(pin)元件廠商的(de)青睞。
　　美商國家儀(yi)器精密直流資深(shen)產品(pin)經(jing)理(li)joeytun表示(shi)，隨著(zhu)產(chan)品規格(ge)不斷(duan)提升，類比及(ji)射頻(rf)元件(jian)開發商亦須持續汰換測試(shi)系統，以滿足新產(chan)品的測試(shi)需求;然而，傳統半導體自動化測試設備(ate)的替換成(cheng)本(ben)高昂，使得晶(jing)片商須負(fu)擔的測試成(cheng)本(ben)日益沉(chen)重。
　　為滿足類(lei)比與射頻元件業者對(dui)更低(di)測試(shi)成本的(de)需求，美商國(guo)家(jia)儀器正挾pxi模組化架構的半(ban)導體(ti)測試系統，積極擴大(da)在半(ban)導體(ti)后(hou)段制(zhi)程設(she)備的市(shi)場(chang)滲透率。
tun指(zhi)出(chu)，開放(fang)式pxi模組化架構開發的半(ban)導體(ti)測試(shi)系統，可協助類比及射(she)頻元件制造商縮(suo)減測試(shi)成(cheng)本，同時(shi)彈性增加(jia)新功能(neng)。
　　此(ci)外，美商(shang)國家儀器也于pxi半導體測試系統整(zheng)合teststand測(ce)試管理軟體和labview系統設(she)計軟體(ti)，為半導體(ti)廠(chang)商(shang)提供豐富的功能組(zu)合(he)，如可(ke)客(ke)制化的操作介(jie)面、標準測(ce)試(shi)資料格式(shi)報表(biao)制作等，助力類(lei)比及射頻元(yuan)件開發商(shang)快速(su)于海外產線建置完整的半導體(ti)自動化測(ce)試(shi)方案。
　　據了解，目(mu)前idt、亞德諾(adi)等半(ban)導(dao)體(ti)業者已相繼(ji)于后段(duan)半(ban)導(dao)體(ti)制程采用(yong)美(mei)商國家(jia)儀器(qi)的半(ban)導(dao)體(ti)測試系統，藉(jie)此大幅減低整(zheng)體(ti)生產測試成本。